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HP3568電池綜合測(cè)試儀：是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的綜合性能測(cè)試儀。可以檢測(cè)電池開(kāi)路電壓，交直流內(nèi)阻，電池充電性能測(cè)試，電池放電性能檢測(cè)，電池容量測(cè)試，短路保護(hù)測(cè)試，I2/C通信（選配），T/C溫度測(cè)試（選配）等參數(shù)。電路采用ARM高速采樣控制，測(cè)試精度高，響應(yīng)速度快。配有標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，LAN通訊口，標(biāo)準(zhǔn)SCPI通訊協(xié)議，滿(mǎn)足自動(dòng)化測(cè)試需求.

HP3562-12多路電池測(cè)試儀：1-12通道可以隨意選擇設(shè)置，多通道同時(shí)顯示，內(nèi)阻測(cè)試范圍：0.1μΩ ～3kΩ，精度0.3%；電壓測(cè)試范圍：10μV～60V，精度0.01%；支持RS232、RS485、LAN以太網(wǎng)通訊接口，并兼容SCPI與MODBUS（optional）兩種通訊協(xié)議指令。配有handler（I/O）接口，便于與PLC等設(shè)備對(duì)接。

HP3560精密電池內(nèi)阻測(cè)試儀：是一種高精度、高穩(wěn)定性的交流電阻測(cè)試儀。在原有設(shè)備上面進(jìn)行一系列更新，增加高穩(wěn)定性測(cè)試回路，和防干擾屏蔽環(huán)路，使得測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定準(zhǔn)確；支持RS232，RS485，以太網(wǎng)口通訊，并兼容SCPI與MODBUS（optional）兩種通訊指令。

HK3561A-V2.0電池內(nèi)阻測(cè)試儀：是一種高精度、高穩(wěn)定性的交流電阻測(cè)試儀。在原版本3561的基礎(chǔ)上增加高穩(wěn)定性測(cè)試回路，和防干擾屏蔽環(huán)路，使得測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定更準(zhǔn)確，增強(qiáng)了本機(jī)通訊性能，使其更便于與外界PC/PLC等設(shè)備對(duì)接，與自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備*融合，達(dá)到產(chǎn)線(xiàn)全自動(dòng)化生產(chǎn)，提高產(chǎn)量效率節(jié)約成本。

HK3554A手持式電池測(cè)試儀： 內(nèi)阻1uΩ～3kΩ，電壓100uV～60V，電阻精度±0.5%rdg.±2dgt，電壓精度±0.1%rdg.±2dgt；